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WITec掃描近場光學(xué)顯微鏡 alpha300S
產(chǎn)品特點：WITec掃描近場光學(xué)顯微鏡 alpha300SWITec公司成立于1997年，是一家為科研和工業(yè)應(yīng)用提供高分辨率光學(xué)系統(tǒng)和掃描探針顯微鏡的德國制造商。公司的產(chǎn)品線包括*探針技術(shù)的近場掃描光學(xué)顯微鏡，高靈敏度和高分辨率的共聚焦顯微拉曼光譜儀和用于材料研究和納米科技的原子力顯微鏡。
更新時間：2024-09-26
產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：代理商
生產(chǎn)地址：
產(chǎn)品詳情
WITec掃描近場光學(xué)顯微鏡 alpha300S
WITec alpha 300S是一種純近場光學(xué)顯微鏡，在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率，并且擁有透射與反射式兩種模式。
該近場光學(xué)顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發(fā)光源。 alpha300S 系統(tǒng)采用軟件可控的快速自動進針及調(diào)節(jié)等自動測試流程，操作非常簡便、直觀。
由于近場光學(xué)信號極其微弱，alpha300 S 近場光學(xué)顯微鏡配備高靈敏單光子計數(shù)的光電倍增管或雪崩二極管，并同時提供檢測器快速超載保護。更重要的是，UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統(tǒng)兼容，實現(xiàn)近場光譜與成像測量。
WITec掃描近場光學(xué)顯微鏡 alpha300S
WITec alpha 300S是一種純近場光學(xué)顯微鏡，在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率，并且擁有透射與反射式兩種模式。
關(guān)鍵特性：
突破衍射極限的空間光學(xué)分辨率（橫向約 60 nm)
*的 SNOM 探針技術(shù)
在空氣與液體中均可使用
包含多種原子力與光學(xué)顯微鏡模式
非破壞性、無需標(biāo)記的超高分辨成像技術(shù)，基本不需要樣品制備
可升級到關(guān)聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像
集成三種技術(shù)到一臺儀器上：共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM
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